數(shù)字延時脈沖發(fā)生器的應用介紹
　　數(shù)字延時脈沖發(fā)生器的放射性原子核的衰變在時間上是隨機的。因此,一個放射源在單位時間內(nèi)發(fā)生衰變的原子核數(shù)圍繞其平均值成泊松分布。核探測器接收到的信號計數(shù)率也圍繞平均計數(shù)率呈泊松分布。其他隨機過程,例如一定束流轟擊靶發(fā)生的反應數(shù)、正負電子束團對撞時單位時間內(nèi)發(fā)生的事例數(shù)也都遵循同樣的規(guī)律。
　　一般,在檢測電子電路和數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)的性能時用數(shù)字延時脈沖發(fā)生器來模擬從核探測器來的信號。脈沖產(chǎn)生器信號是周期性的,它們之間的時間間隔總是一樣的。而一些較復雜的系統(tǒng)對周期性脈沖和隨機脈沖的反應可能不一樣,特別是當計數(shù)率接近系統(tǒng)的處理能力的*。為了檢測電子電路和數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)在隨機觸發(fā)下的性能,需要用時間上隨機的脈沖信號源。
　　數(shù)字延時脈沖發(fā)生器在用碼密度法測試TDC的微分非線性時需要輸入一個時間上隨機的信號。盛華義等提出用電路本身的隨機噪聲產(chǎn)生隨機擊中信號。
　　先后用數(shù)字的方法研制了兩種隨機脈沖產(chǎn)生器。一種用單片機給出隨機脈沖間隔;第二種用偽隨機碼給出隨機脈沖。